Framenanalyse - eine neue Art der Analyse serieller und anderer Paketdaten
EP2824461
Art A1
14. Januar 2015
Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2824461
- Aktenzeichen
- EP14176251
- Anmeldetag
- 9. Juli 2014
- Veröffentlichung
- 14. Januar 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R13/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tektronix, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Clarke, Jeffrey David
Sheffield, Großbritannien
394
Patente gesamt
17
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
HGF
HGF · München