Einwegsystem für Ionenselektive Elektroden für Langzeitüberwachung

EP2825873 Art B1 9. März 2016

Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement, CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2825873
Aktenzeichen: EP13708835
Anmeldetag: 12. März 2013
Veröffentlichung: 9. März 2016
Erteilung: 9. März 2016
Rechtsraum: EP
IPC: G01N27/333G01N33/18

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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