Negative Spannungsmessung

EP2843426 Art B1 28. Dezember 2016

Anmelder: NXP USA, Inc., Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2843426
Aktenzeichen: EP14181969
Anmeldetag: 22. August 2014
Veröffentlichung: 28. Dezember 2016
Erteilung: 28. Dezember 2016
Rechtsraum: EP
IPC: G01R19/00G01R29/12

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: NXP USA, Inc.
Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 NXP USA

US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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