Halbleiterbauelement und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements
EP2856379
Art B1
12. Oktober 2016
Anmelder: NXP USA, Inc., Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2856379
- Aktenzeichen
- EP12877715
- Anmeldetag
- 30. Mai 2012
- Veröffentlichung
- 12. Oktober 2016
- Erteilung
- 12. Oktober 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F21/57G06F21/72G06F21/62G06F21/71G06F21/79G09C1/00H04L9/08H04N21/426H04N21/4405H04N21/443H04N21/462
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NXP USA, Inc.
Freescale Semiconductor, Inc. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
NXP USA
US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.
1.545 Patente in unserer Datenbank