Verwendung von fixed-pattern-noise in wellenlängenscannender optischer Kohärenztomografie

EP2860488 Art B1 13. Juli 2016

Anmelder: Nidek Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2860488
Aktenzeichen: EP14186899
Anmeldetag: 29. September 2014
Veröffentlichung: 13. Juli 2016
Erteilung: 13. Juli 2016
Rechtsraum: EP
IPC: G01B9/02A61B3/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Nidek Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nidek

Nidek ist ein japanischer Hersteller ophthalmologischer Geräte, etwa für Diagnostik und Laserbehandlung am Auge. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Werkzeug-, Fertigungs- und Drucktechnik sowie Optik und Fototechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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