Ophthalmische Messvorrichtung und ophthalmisches Messprogramm

EP2878258 Art B1 10. Oktober 2018

Anmelder: Nidek co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2878258
Aktenzeichen
EP14195220
Anmeldetag
27. November 2014
Veröffentlichung
10. Oktober 2018
Erteilung
10. Oktober 2018
Rechtsraum
EP
IPC
A61B3/00A61B3/14A61B3/15A61B3/107A61B3/10
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Nidek co., Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Nidek

Nidek ist ein japanischer Hersteller ophthalmologischer Geräte, etwa für Diagnostik und Laserbehandlung am Auge. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Werkzeug-, Fertigungs- und Drucktechnik sowie Optik und Fototechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

640 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen