Verfahren und System zur Datenanalyse zur halbautomatischen Partikelanalyse mit einem geladenen Teilchenstrahl

EP2881972 Art B1 22. März 2017

Anmelder: Carl Zeiss Microscopy Ltd. 🇬🇧

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2881972
Aktenzeichen
EP14004439
Anmeldetag
9. August 2013
Veröffentlichung
22. März 2017
Erteilung
22. März 2017
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/22H01J37/28H01J37/26G06T7/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Carl Zeiss Microscopy Ltd.
Land
🇬🇧 Großbritannien
🇩🇪 Carl Zeiss Microscopy GmbH

Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.

609 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Software & Datenverarbeitung

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