Positionsmesssystem und Verfahren zum Betrieb eines Positionsmesssystems

EP2884241 Art B1 22. Februar 2017

Anmelder: Dr. Johannes Heidenhain GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2884241
Aktenzeichen: EP14195642
Anmeldetag: 1. Dezember 2014
Veröffentlichung: 22. Februar 2017
Erteilung: 22. Februar 2017
Rechtsraum: EP
IPC: G01D5/36// G01D5/26

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Positionsmesssystem mit mehreren Abtasteinheiten (E11-E23) zur optischen Abtastung mindestens einer Maßverkörperung (MP), wobei die Abtasteinheiten mit mehreren Lichtquellen (L1-L3) und mehreren Detektoren optisch gekoppelt sind. Zwischen den Abtasteinheiten und den Detektoren (D11-D24) sind mehrere Demultiplexer (DMmk) angeordnet, über die jeweils mindestens zwei Abtasteinheiten mit einem Detektor gekoppelt sind.

Anmelder

Firma: Dr. Johannes Heidenhain GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Dr. Johannes Heidenhain

Deutscher Hersteller von Mess- und Steuerungstechnik, darunter Längen- und Winkelmessgeräte, Drehgeber sowie CNC-Steuerungen für Werkzeugmaschinen und Präzisionsfertigung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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