Verfahren zur Messung der Ionenkonzentration eines Analyten mit einem mikromechanischen Chip eines ionenselektiven Sensors

EP2885633 Art B1 12. Februar 2020

Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement, CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique S.A. - Recherche et Développement 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2885633
Aktenzeichen: EP13753129
Anmeldetag: 14. August 2013
Veröffentlichung: 12. Februar 2020
Erteilung: 12. Februar 2020
Rechtsraum: EP
IPC: G01N27/333// B01L3/00

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Firmen: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique S.A. - Recherche et Développement
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Verfahrens- & Trenntechnik

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