Verfahren und Vorrichtung zur Detektion sichtbarer Fehler

EP2887055 Art B1 11. Mai 2016

Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2887055
Aktenzeichen: EP13197867
Anmeldetag: 17. Dezember 2013
Veröffentlichung: 11. Mai 2016
Erteilung: 11. Mai 2016
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/956G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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