Verfahren zum Testen einer Halbleiterstruktur
EP2901168
Art B1
22. März 2017
Anmelder: Xilinx, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2901168
- Aktenzeichen
- EP13727475
- Anmeldetag
- 22. Mai 2013
- Veröffentlichung
- 22. März 2017
- Erteilung
- 22. März 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/319G01R31/28G01R31/317
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Xilinx, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Xilinx, Inc.
Xilinx, Inc. ist ein US-amerikanischer Hersteller programmierbarer Logikbausteine (FPGAs), seit 2022 Teil von AMD, mit Patenten im Bereich Halbleitertechnik und Chipdesign.
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Vertreten von
Naismith, Robert Stewart
Glasgow, Großbritannien
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