Manipulations-/Schadenserkennung

EP2919169 Art A1 16. September 2015

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2919169
Aktenzeichen
EP15155622
Anmeldetag
18. Februar 2015
Veröffentlichung
16. September 2015
Rechtsraum
EP
IPC
G06K19/073G06K19/077
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

7.918 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen