System und Verfahren zur Effizienten Messung der Stereoskopischen Disparität und zur Erzeugung der Zugehörigen nicht Übereinstimmenden Bilder
EP2922294
Art B1
10. Mai 2017
Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2922294
- Aktenzeichen
- EP15167198
- Anmeldetag
- 21. November 2011
- Veröffentlichung
- 10. Mai 2017
- Erteilung
- 10. Mai 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04N13/00G06T7/00H04N17/00G06T5/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tektronix, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Clarke, Jeffrey David
Sheffield, Großbritannien
394
Patente gesamt
17
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
HGF
HGF · München
-
HGF Limited
HGF Limited · Den Haag