Schärfentiefeanzeige unter Verwendung von Fokusspitzen-Bildmarkierungen
Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2928179
- Aktenzeichen
- EP15162449
- Anmeldetag
- 2. April 2015
- Veröffentlichung
- 12. Juni 2019
- Erteilung
- 12. Juni 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04N17/00
Abstract
A waveform monitor for generating a modified image from an original image includes a measuring system to select luminance frequency values of the original image that are above a first and a second threshold. A modifier changes selected pixels of the original image that fall above the first and second thresholds. In some embodiments these changed pixels are given a false color as color markers to indicate DOF and areas of sharpest focus of the original image. Methods of modifying images in this manner are also described.
Anmelder
- Firma
- Tektronix, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
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HGF
HGF · München
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HGF Limited
HGF Limited · Den Haag