Anordnung in einem Wärmeverfahren und Verfahren zur Messung der Dicke einer Kontaminationsschicht

EP2929247 Art B1 17. August 2016

Anmelder: Valmet Technologies Oy 🇫🇮

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2929247
Aktenzeichen: EP13814188
Anmeldetag: 25. November 2013
Veröffentlichung: 17. August 2016
Erteilung: 17. August 2016
Rechtsraum: EP
IPC: F23J3/02F23M11/04G01N21/17

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Valmet Technologies Oy
Land: 🇫🇮 Finnland

🇫🇮 Valmet Technologies, Inc.

Valmet ist ein finnisches Technologieunternehmen mit Sitz in Espoo, das Anlagen für die Zellstoff-, Papier- und Energiebranche liefert. Die Patente betreffen Prozess- und Automatisierungstechnik.

650 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von