Inkrementale Positionsmesseinrichtung mit auswählbaren Referenzmarken

EP2944925 Art B1 28. Dezember 2016

Anmelder: Dr. Johannes Heidenhain GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2944925
Aktenzeichen: EP15154500
Anmeldetag: 10. Februar 2015
Veröffentlichung: 28. Dezember 2016
Erteilung: 28. Dezember 2016
Rechtsraum: EP
IPC: G01D5/245

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Positionsmesseinrichtung mit einem Maßstab (1) und einer relativ dazu in Messrichtung (X) beweglichen Abtasteinheit (2). Der Maßstab (1) weist eine inkrementale Messteilung (11) sowie mehrere Referenzmarken (12, 13) auf. Zur Auswahl einer dieser Referenzmarken (12) ist eine erste Markierung (14) in einer Markierungsspur (T1) angeordnet. In dieser Markierungsspur (T1) ist eine zweite Markierung (15) angeordnet, von der durch Abtastung ein Schaltsignal (S1) ableitbar ist. Zur Abtastung der Markierungsspur (T1) sind in der Abtasteinheit (2) zwei in Messrichtung (X) voneinander beabstandete Detektoren (23, 24) vorgesehen.

Anmelder

Firma: Dr. Johannes Heidenhain GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Dr. Johannes Heidenhain

Deutscher Hersteller von Mess- und Steuerungstechnik, darunter Längen- und Winkelmessgeräte, Drehgeber sowie CNC-Steuerungen für Werkzeugmaschinen und Präzisionsfertigung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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