Nichtflüchtige Halbleiterspeichervorrichtung und Verfahren zum Testen davon
EP2945164
Art B1
14. August 2019
Anmelder: ABLIC Inc., SII Semiconductor Corporation, Seiko Instruments Inc. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2945164
- Aktenzeichen
- EP13871272
- Anmeldetag
- 23. Oktober 2013
- Veröffentlichung
- 14. August 2019
- Erteilung
- 14. August 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F11/22G06F11/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ABLIC Inc.
SII Semiconductor Corporation
Seiko Instruments Inc. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Seiko Instruments
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiba, tätig in den Bereichen Präzisionsinstrumente, Uhren und elektronische Bauteile.
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Miller Sturt Kenyon
Miller Sturt Kenyon · London