System und Verfahren zur Überprüfung eines Partikelstrahls

EP2950119 Art B1 18. Mai 2016

Anmelder: ION BEAM APPLICATIONS S.A. 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2950119
Aktenzeichen
EP14169907
Anmeldetag
26. Mai 2014
Veröffentlichung
18. Mai 2016
Erteilung
18. Mai 2016
Rechtsraum
EP
IPC
G01T1/29
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ION BEAM APPLICATIONS S.A.
Land
🇧🇪 Belgien
Vertreten von
Decrock, Patrick Louvain-la-Neuve, Belgien
4
Patente gesamt
4
Fachgebiete
1
Anmelder-Länder
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