Vorrichtung für Optisches Interferometrisches Messen und Verfahren dafür

EP2952849 Art B1 29. April 2020

Anmelder: Kabushiki Kaisha Topcon 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2952849
Aktenzeichen: EP15170234
Anmeldetag: 2. Juni 2015
Veröffentlichung: 29. April 2020
Erteilung: 29. April 2020
Rechtsraum: EP
IPC: G01B9/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha Topcon
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

599 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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