Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Halbleitern bei Niedriger Temperatur
EP2973674
Art A1
20. Januar 2016
Anmelder: Microchip Technology Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2973674
- Aktenzeichen
- EP14719923
- Anmeldetag
- 12. März 2014
- Veröffentlichung
- 20. Januar 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Microchip Technology Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Microchip Technology
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Chandler, Arizona, bekannt für Mikrocontroller und analoge Halbleiterbauelemente.
1.426 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Grubert, Andreas
München, Deutschland
875
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31
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11
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-
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sgb europe · Hohenschäftlarn