Verfahren und Vorrichtung zum Mikroskopischen Untersuchen einer Probe
EP2977810
Art A1
27. Januar 2016
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2977810
- Aktenzeichen
- EP15177958
- Anmeldetag
- 22. Juli 2015
- Veröffentlichung
- 27. Januar 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/16G01N21/64G02B21/06G02B27/56
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Bradl, Joachim
Schriesheim, Deutschland
148
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22
Fachgebiete
6
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Schwerpunkte