Testkontaktor zum Kontaktieren von Halbleiterelementen, Verfahren zum Kontaktieren von Halbleiterelementen und Verwendung eines Testkontaktors
EP3023801
Art A1
25. Mai 2016
Anmelder: Yamaichi Electronics Deutschland GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3023801
- Aktenzeichen
- EP15003259
- Anmeldetag
- 16. November 2015
- Veröffentlichung
- 25. Mai 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28// G01R1/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Yamaichi Electronics Deutschland GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Yamaichi Electronics Deutschland
Deutsche Niederlassung des japanischen Elektronikkonzerns Yamaichi, die Steckverbinder und Kontaktsysteme für elektronische Baugruppen in Automobil-, Telekommunikations- und Industrieanwendungen entwickelt.
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