Verfahren zur Bestimmung der Wechselswirkungstiefe in einem Pixelierten Detektor, Detektor und Entsprechende Anwendungen

EP3025167 Art B1 6. November 2019

Anmelder: Iltis, Alain 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3025167
Aktenzeichen
EP14750556
Anmeldetag
4. Juli 2014
Veröffentlichung
6. November 2019
Erteilung
6. November 2019
Rechtsraum
EP
IPC
G01T1/20G01T1/29
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Iltis, Alain
Land
🇫🇷 Frankreich

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Debay, Damien Debay IP Genève, Schweiz
105
Patente gesamt
24
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Medizintechnik & Gesundheit Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik Verfahrens- & Trenntechnik
Zum Anwaltsprofil
Kanzlei
Debay IP La Celle-Saint-Cloud, Frankreich
105
Patente gesamt
1
Patentanwälte
2
Standorte
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