Verbesserte Silicidformierung durch Verbesserte Sige-Facettierung

EP3036769 Art B1 30. Juni 2021

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3036769
Aktenzeichen
EP14838365
Anmeldetag
22. August 2014
Veröffentlichung
30. Juni 2021
Erteilung
30. Juni 2021
Rechtsraum
EP
IPC
H01L27/088H01L21/336H01L21/28H01L29/165H01L21/8234H01L29/08H01L29/78
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Texas Instruments Incorporated
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

3.600 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von
Zeller, Andreas Texas Instruments Deutschland GmbH · Inhouse Freising, Deutschland
1.261
Patente gesamt
26
Fachgebiete
14
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