Verfahren zur Überwachung von Radius- und Formabweichungen von Atomkraftmikroskopauslegerspitzen und Vorrichtung dafür
EP3078973
Art A1
12. Oktober 2016
Anmelder: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC), Delft University Of Technology, Consejo Superior de Investigaciones Cientificas (CSIC) 🇪🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3078973
- Aktenzeichen
- EP15163207
- Anmeldetag
- 10. April 2015
- Veröffentlichung
- 12. Oktober 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01Q40/00G01Q60/32
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Delft University Of Technology
Consejo Superior de Investigaciones Cientificas (CSIC) - Land
- 🇪🇸 Spanien
🇪🇸
Consejo Superior de Investigaciones Científicas
Größte staatliche Forschungseinrichtung Spaniens mit Sitz in Madrid, tätig in nahezu allen Wissenschaftsbereichen von Naturwissenschaften bis Geisteswissenschaften. Die Institution (CSIC) betreibt zahlreiche Forschungszentren im ganzen Land.
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