Instrument zur Dreidimensionalen Vermessung und Verfahren zur Dreidimensionalen Vermessung

EP3096110 Art B1 12. September 2018

Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3096110
Aktenzeichen: EP16166551
Anmeldetag: 22. April 2016
Veröffentlichung: 12. September 2018
Erteilung: 12. September 2018
Rechtsraum: EP
IPC: G01S17/42G01S7/481G01S7/497G01C15/00G01S17/88G01C3/02

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: TOPCON CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

489 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von