Verfahren zum Testen von Differenziellem Analog-Digitalwandler und System dafür
EP3110008
Art A1
28. Dezember 2016
Anmelder: NXP USA, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3110008
- Aktenzeichen
- EP16175408
- Anmeldetag
- 21. Juni 2016
- Veröffentlichung
- 28. Dezember 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H03M1/10// H03M1/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP USA, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
NXP USA
US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.
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Fachgebiete
Weitere Vertreter
-
Terblanche, Candice Jane
NoneRedhill