Temperaturmessung

EP3121961 Art B1 3. April 2019

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3121961
Aktenzeichen
EP15178325
Anmeldetag
24. Juli 2015
Veröffentlichung
3. April 2019
Erteilung
3. April 2019
Rechtsraum
EP
IPC
H03F3/181G01K7/42H04R3/00H03F1/30G01K7/16H04R29/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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