Messsondeneinheit für Metrologieanwendungen

EP3129750 Art B1 31. Mai 2023

Anmelder: LK METROLOGY LTD, Nikon Metrology NV 🇬🇧

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3129750
Aktenzeichen
EP15717837
Anmeldetag
8. April 2015
Veröffentlichung
31. Mai 2023
Erteilung
31. Mai 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G01B21/04G01B5/012G01B7/012G01B11/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
LK METROLOGY LTD
Nikon Metrology NV
Land
🇬🇧 Großbritannien

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Gyi, Jeffrey Ivan Sint-Martens-Latem, Belgien
105
Patente gesamt
24
Fachgebiete
15
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Verpackungs- & Fördertechnik
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