Drehmessung mit Induktivem Sensor und Drehachsenzieloberfläche

EP3134741 Art A1 1. März 2017

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3134741
Aktenzeichen
EP15782899
Anmeldetag
27. April 2015
Veröffentlichung
1. März 2017
Rechtsraum
EP
IPC
G01P3/49G01P13/04G01P3/481G01P3/48G01R33/00G01D5/20
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Texas Instruments Incorporated
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

4.297 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von
Zeller, Andreas Texas Instruments Deutschland GmbH · Inhouse Freising, Deutschland
1.261
Patente gesamt
26
Fachgebiete
14
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