Identifizierung und Messung von Sub-Rpe Schichten

EP3138470 Art B1 26. Dezember 2018

Anmelder: Kabushiki Kaisha Topcon 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3138470
Aktenzeichen: EP16191274
Anmeldetag: 21. Januar 2015
Veröffentlichung: 26. Dezember 2018
Erteilung: 26. Dezember 2018
Rechtsraum: EP
IPC: A61B3/00A61B3/10A61B3/12G06T7/00G01B9/02G01N21/47G01N21/64G06T5/00G01N21/17G01N21/88A61B5/00G06K9/00G06K9/52G06K9/46

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha Topcon
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

599 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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