Vorrichtung zur Verarbeitung eines Materials auf einem Substrat und Verfahren zur Messung der Optischen Eigenschaften eines auf einem Substrat Verarbeiteten Materials
EP3143178
Art A1
22. März 2017
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3143178
- Aktenzeichen
- EP14731914
- Anmeldetag
- 16. Mai 2014
- Veröffentlichung
- 22. März 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- C23C14/54G01B11/06C23C16/52C23C16/54G01N21/55G01N21/59G01N21/47
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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