Verfahren zum Automatischen Finden des Optimalen Probennahmepunktes in einem Augendiagramm
EP3145106
Art B1
1. August 2018
Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3145106
- Aktenzeichen
- EP16189978
- Anmeldetag
- 21. September 2016
- Veröffentlichung
- 1. August 2018
- Erteilung
- 1. August 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04L7/00H04L7/08H04L25/49H04L1/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tektronix, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Clarke, Jeffrey David
Sheffield, Großbritannien
394
Patente gesamt
17
Fachgebiete
6
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
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HGF
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HGF Limited
HGF Limited · Den Haag