Inspektionsvorrichtung und Verfahren zur Verwendung von Magneto-Optischen Kristallen

EP3153852 Art B1 27. Februar 2019

Anmelder: Hamamatsu Photonics K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3153852
Aktenzeichen: EP15803950
Anmeldetag: 2. Juni 2015
Veröffentlichung: 27. Februar 2019
Erteilung: 27. Februar 2019
Rechtsraum: EP
IPC: G01N27/72G01R31/26G01R31/28G01R33/032H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Hamamatsu Photonics K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

1.968 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von