Strahlungsdetektionsstrukturen und Herstellungsverfahren dafür

EP3158365 Art A2 26. April 2017

Anmelder: Rensselaer Polytechnic Institute 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3158365
Aktenzeichen: EP15847783
Anmeldetag: 22. Juni 2015
Veröffentlichung: 26. April 2017
Rechtsraum: EP
IPC: G01T3/08H01L27/14H01L31/115H01L31/18

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Rensselaer Polytechnic Institute
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Rensselaer Polytechnic Institute

Das Rensselaer Polytechnic Institute ist eine private technische Universität mit Sitz in Troy, New York, und eine der ältesten technischen Hochschulen der USA. Das Patentportfolio streut breit über Medizintechnik, Halbleiter und Mess- und Prüftechnik, mit weiteren Anmeldungen in Pharma, Kunststofftechnik und Software. Anmeldungen decken den Zeitraum 2000 bis 2025 ab.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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