Schaltung und Verfahren zur Detektion von Kurzschlussausfall eines Schalttransistors
EP3158616
Art A1
26. April 2017
Anmelder: MICROCHIP TECHNOLOGY INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3158616
- Aktenzeichen
- EP15733977
- Anmeldetag
- 19. Juni 2015
- Veröffentlichung
- 26. April 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H02H3/04H02H3/08H02H3/093
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- MICROCHIP TECHNOLOGY INC.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Microchip Technology
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Chandler, Arizona, bekannt für Mikrocontroller und analoge Halbleiterbauelemente.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Betten & Resch
Betten & Resch · München