Oberflächenvermessungsgerät zur Bestimmung von 3D-Koordinaten einer Oberfläche

EP3165945 Art B1 3. Januar 2024

Anmelder: Leica Geosystems AG 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3165945
Aktenzeichen
EP15192815
Anmeldetag
3. November 2015
Veröffentlichung
3. Januar 2024
Erteilung
3. Januar 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01S17/42G01S17/86G01S17/89G01S7/00G01S7/48G01S7/481G01S7/497B64B1/40B64C39/02B64U10/13B64U10/30G05D1/00G05D1/08// F03D17/00B64U101/30
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Leica Geosystems AG
Land
🇨🇭 Schweiz
🇨🇭 Leica Geosystems

Schweizer Hersteller von Vermessungs- und Geoinformationstechnik, entwickelt Instrumente und Software für Landvermessung, Bauwesen und geografische Datenerfassung.

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