Verfahren zur Beurteilung der Qualität einer Oxidhalbleiterdünnschicht und Laminierter Körper mit einem Schutzfilm auf der Oberfläche einer Oxidhalbleiterdünnschicht und Verfahren zur Verwaltung der Qualität einer Oxidhalbleiterdünnschicht
EP3171397
Art B1
18. September 2019
Anmelder: Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.) 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3171397
- Aktenzeichen
- EP15822449
- Anmeldetag
- 6. Juli 2015
- Veröffentlichung
- 18. September 2019
- Erteilung
- 18. September 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/265H01L29/66H01L21/66H01L29/786H01L27/146
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.)
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Kobe Steel
Japanischer Mischkonzern mit Sitz in Kobe, gegründet 1905. Tätigkeitsfelder umfassen Stahl- und Aluminiumerzeugnisse, Maschinenbau sowie Werkstofftechnik.
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