Verfahren und Vorrichtung zum Mikroskopischen Untersuchen einer Probe

EP3172610 Art B1 24. Februar 2021

Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3172610
Aktenzeichen
EP15739615
Anmeldetag
22. Juli 2015
Veröffentlichung
24. Februar 2021
Erteilung
24. Februar 2021
Rechtsraum
EP
IPC
G02B21/16G01N21/64G02B21/06G02B27/56
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Leica Microsystems CMS GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

770 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen