Verfahren zur Glättung der Oberfläche einer Struktur

EP3193355 Art B1 13. November 2019

Anmelder: Soitec 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3193355
Aktenzeichen
EP17150008
Anmeldetag
2. Januar 2017
Veröffentlichung
13. November 2019
Erteilung
13. November 2019
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/324// H01L21/762
Offizieller Volltext

Abstract

The invention relates to a process for smoothing a silicon-on-insulator structure comprising the exposure of a surface of the structure to an inert or reducing gas flow and to a high temperature during a heat treatment, the process comprising: • a first heat treatment step at a first temperature and under a first gas flow defined by a first flow rate; the process being noteworthy in that it comprises: • a second heat treatment step at a second temperature lower than the first temperature and under a second gas flow defined by a second flow rate lower than the first flow rate.

Anmelder

Firma
Soitec
Land
🇫🇷 Frankreich
🇫🇷 Soitec

Französischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Bernin, spezialisiert auf Silicon-on-Insulator (SOI) Substrate. Patente decken Halbleitermaterialien und Waferbondtechnik ab.

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