Vorrichtung zur Beurteilung eines Merkmal, System zur Beurteilung eines Merkmals, Verfahren zur Beurteilung eines Merkmals und Programm zur Beurteilung eines Merkmals
EP3208768
Art A1
23. August 2017
Anmelder: Omron Corporation, Kyushu University, National University Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3208768
- Aktenzeichen
- EP15850451
- Anmeldetag
- 14. Oktober 2015
- Veröffentlichung
- 23. August 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F19/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Omron Corporation
Kyushu University, National University Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
1.838 Patente in unserer Datenbank
🇯🇵
Kyushu University
Kyushu University ist eine staatliche Universität in Fukuoka, Japan, mit Forschungsschwerpunkten in Natur- und Ingenieurwissenschaften.
878 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Hinkelmann, Klaus
München, Deutschland
259
Patente gesamt
31
Fachgebiete
11
Anmelder-Länder
Schwerpunkte