Verfahren, Analysesystem und Computerprogrammprodukt zur Halbautomatischen Röntgenstrahlen-Elementaranalyse unter Verwendung eines Teilchenmikroskops

EP3217420 Art A1 13. September 2017

Anmelder: Carl Zeiss Microscopy Ltd. 🇬🇧

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3217420
Aktenzeichen
EP16000567
Anmeldetag
9. März 2016
Veröffentlichung
13. September 2017
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/28G01N23/225
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Carl Zeiss Microscopy Ltd.
Land
🇬🇧 Großbritannien
🇩🇪 Carl Zeiss Microscopy GmbH

Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.

609 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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