Rastermikroskop
EP3234680
Art A1
25. Oktober 2017
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3234680
- Aktenzeichen
- EP15817826
- Anmeldetag
- 21. Dezember 2015
- Veröffentlichung
- 25. Oktober 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
770 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Bradl, Joachim
Schriesheim, Deutschland
148
Patente gesamt
22
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte