Dynamische Messung von Frequenzsynthesizerrauschspuren oder Phasenrauschen

EP3241032 Art B1 24. März 2021

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3241032
Aktenzeichen
EP15876364
Anmeldetag
31. Dezember 2015
Veröffentlichung
24. März 2021
Erteilung
24. März 2021
Rechtsraum
EP
IPC
G01S7/03G01S7/40G01S13/34G01S13/93
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Texas Instruments Incorporated
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

3.600 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von
Zeller, Andreas Texas Instruments Deutschland GmbH · Inhouse Freising, Deutschland
1.261
Patente gesamt
26
Fachgebiete
14
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