Vorrichtung zur Vorbereitung von Abstrichen und Verfahren zur Vorbereitung von Abstrichen

EP3249383 Art B1 2. August 2023

Anmelder: SYSMEX CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3249383
Aktenzeichen: EP17171933
Anmeldetag: 19. Mai 2017
Veröffentlichung: 2. August 2023
Erteilung: 2. August 2023
Rechtsraum: EP
IPC: G01N1/31// G01N35/00G01N35/04G01N1/28

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: SYSMEX CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sysmex

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Kobe, spezialisiert auf Entwicklung und Herstellung von Labordiagnostik- und Analysegeräten, insbesondere für Hämatologie und klinische Chemie.

921 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von