Metallionendetektionsverfahren, Analytdetektionsverfahren, Elektrodensubstrat und Detektionskit

EP3249396 Art A1 29. November 2017

Anmelder: Sysmex Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3249396
Aktenzeichen: EP16740169
Anmeldetag: 19. Januar 2016
Veröffentlichung: 29. November 2017
Rechtsraum: EP
IPC: G01N27/327G01N27/416G01N27/42G01N27/48G01N33/543

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Sysmex Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sysmex

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Kobe, spezialisiert auf Entwicklung und Herstellung von Labordiagnostik- und Analysegeräten, insbesondere für Hämatologie und klinische Chemie.

1.175 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von