Röntgenuntersuchungsvorrichtung und Röntgenuntersuchungsverfahren

EP3258252 Art B1 4. September 2019

Anmelder: Omron Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3258252
Aktenzeichen
EP17172637
Anmeldetag
24. Mai 2017
Veröffentlichung
4. September 2019
Erteilung
4. September 2019
Rechtsraum
EP
IPC
G01N23/046
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Omron Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

6.710 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen