Charakterisierung von Spektraler Emission über Thermische Konduktive Erwärmung und In-Situ-Strahlungsmessung unter Verwendung eines Spiegels mit Geringem E-Wert
EP3283863
Art B1
27. Oktober 2021
Anmelder: Raytheon Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3283863
- Aktenzeichen
- EP16717726
- Anmeldetag
- 2. Februar 2016
- Veröffentlichung
- 27. Oktober 2021
- Erteilung
- 27. Oktober 2021
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01J5/00G01J5/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Raytheon Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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