Hochfrequenzzeitbereichsreflektometrietastkopfsystem

EP3285076 Art B1 9. Oktober 2019

Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3285076
Aktenzeichen: EP17186251
Anmeldetag: 15. August 2017
Veröffentlichung: 9. Oktober 2019
Erteilung: 9. Oktober 2019
Rechtsraum: EP
IPC: G01R1/04G01R1/067G01R1/36H01R13/71H01R13/703G01R31/11

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Tektronix, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Tektronix, Inc.

US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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