Jitter- und Augenkontur bei Ber-Messungen nach Dfe

EP3285447 Art B1 10. Juli 2019

Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3285447
Aktenzeichen: EP17186254
Anmeldetag: 15. August 2017
Veröffentlichung: 10. Juli 2019
Erteilung: 10. Juli 2019
Rechtsraum: EP
IPC: H04L25/03H04B3/46

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Tektronix, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Tektronix, Inc.

US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.

498 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Nachrichtentechnik & Telekommunikation

Vertreten von